金屬電鍍層膜厚分析儀：鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標(biāo)，關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進(jìn)行多點測試，檢測結(jié)果更加精準(zhǔn)。
鍍層厚度檢測儀，膜厚儀：Think600鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作更人性化、更方便。
膜厚儀，鍍層測厚檢測儀：若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)，此種不同能階轉(zhuǎn)換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
金屬電鍍層厚度分析儀：鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等（在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating））。
X射線無損鍍層厚度測試儀：X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識，對每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發(fā)了，
鍍層厚度測試儀，測厚儀:滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求、高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光，可自動定位測試高度、定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊、鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
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